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検査

磁気探傷試験(MT)

Magnetic Particle Testing

試験体表面に開口している目に見えないきずや、表面直下の開口していないきずを磁気を利用することで、着色されている磁粉や紫外線で蛍光を発する磁粉を、きずから漏洩している磁力線に吸着させます。そうして形成された磁粉模様の形状と大きさから試験体の評価を行う試験方法です。

原理

強磁性体(磁石が吸着する物質)の試験体に強い磁気を与えて試験体内部に強い磁力線を発生させます。
そうするときずのある所から磁力線が漏洩し磁粉を吸着させることができ、きずの磁粉模様が形成されます。

図

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特徴

検査状況

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きず指示模様

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